Elektronikzuverlässigkeit

Dieses zweitägige Seminar bietet Ihnen den „roten Faden“ zur praktischen Absicherung der Zuverlässigkeit und der Lebensdauer Ihrer Elektronik. Das Umfeld hierzu wird immer anspruchsvoller. Nach Erläuterung der grundlegenden Kenngrößen der Produktzuverlässigkeit werden die Physics of Failure von elektronischen Produkten und Bauteilen vorgestellt sowie die mathematischen Modelle, um diese zu beschreiben. Diese sind die Basis für geeignete Nachweistests. Danach wird ein praxiserprobter und bewährter Meilensteinplan zur Absicherung der Zuverlässigkeit und der Lebensdauer elektronischer Produkte vorgestellt. Dieser enthält sämtliche relevanten Punkte, die bedacht werden müssen, und stellt die Blaupause für einen entsprechenden Prozess in einer Firma dar. Am zweiten Tag des Seminars wird auf wesentliche Punkte des Plans noch tiefer eingegangen. Die Ausfallratenberechnung wird vorgestellt, verschiedene Standards werden diskutiert und anhand eines Beispiels berechnen die Teilnehmer die Einsatzausfallrate eines SMD-Bausteins. Im Folgenden werden Richtlinien vorgestellt für die Entwicklung von Schaltungen, das Layout und den Prozess. Die präventive Lebensdauerberechnung der Aufbau- und Verbindungstechnik ist ein Thema, welches in vielen Firmen nicht oder nicht effizient durchgeführt wird, was dann zu nicht bestandenen Temperaturwechsel- oder Vibrationstests führt. Das Seminar zeigt hier das Vorgehen anhand der auf den Physics of Failure basierten Berechnungssoftware Sherlock®. Zuletzt wird auf die wesentlichen Testingansätze und -strategien eingegangen, die zur effizienten Lebensdauerabsicherung genutzt werden können. Das Seminar endet mit einem Ausblick auf aktuelle Trends und daraus erwachsende Herausforderungen im Bereich der Elektronikzuverlässigkeit